檢測信息(部分)
什么是半導體檢測?
半導體檢測是通過 手段對半導體材料和器件的性能、可靠性及缺陷進行分析與驗證的過程。
半導體產品的主要用途有哪些?
廣泛應用于集成電路、光電器件、功率器件、傳感器等領域,覆蓋消費電子、汽車電子、通信設備等行業。
半導體檢測的核心目標是什么?
確保產品符合設計規格,識別制造缺陷,驗證電學特性,并提升器件壽命與穩定性。
檢測周期通常需要多久?
根據檢測項目復雜度,周期從24小時到15個工作日不等。
檢測報告包含哪些內容?
涵蓋樣品信息、檢測方法、參數結果、缺陷分析及合規性結論等核心模塊。
檢測項目(部分)
- 擊穿電壓:表征器件承受高壓的能力閾值
- 載流子遷移率:反映半導體材料導電性能的核心指標
- 界面態密度:衡量半導體界面缺陷濃度的重要參數
- 漏電流:評估器件絕緣性能的關鍵數據
- 熱阻系數:表征器件散熱能力的核心參數
- 晶體缺陷:檢測晶格結構完整性的微觀分析
- 摻雜濃度:確定半導體材料改性程度的基礎指標
- 閾值電壓:界定器件開關特性的關鍵電學參數
- 結深測量:評估PN結工藝質量的重要維度
- 表面粗糙度:影響器件可靠性的表面形貌特征
- 遷移率退化:評估器件使用壽命的加速老化測試
- 寄生電容:制約高頻性能的關鍵電路參數
- 歐姆接觸:驗證金屬-半導體接觸質量的必要測試
- 抗輻射性:航天級器件的特殊環境適應性檢測
- 封裝氣密性:確保器件環境耐受性的封裝測試
- 鍵合強度:評估封裝結構機械穩定性的核心指標
- 熱循環測試:驗證器件溫度適應性的可靠性實驗
- 電磁兼容:檢測器件抗電磁干擾能力的專項測試
- 噪聲系數:表征器件信號保真度的高頻參數
- 失效分析:定位產品故障根源的綜合診斷項目
檢測范圍(部分)
- 硅基半導體器件
- 化合物半導體器件
- 功率MOSFET
- IGBT模塊
- 存儲芯片
- 邏輯芯片
- 模擬芯片
- 射頻器件
- 光敏二極管
- 激光二極管
- 圖像傳感器
- MEMS傳感器
- 晶圓材料
- 封裝基板
- 引線框架
- 鍵合絲材
- 散熱基板
- 光刻膠材料
- 電子級化學品
- 特種氣體材料
檢測儀器(部分)
- 四探針測試儀
- 掃描電子顯微鏡
- 原子力顯微鏡
- 二次離子質譜儀
- X射線衍射儀
- 深能級瞬態譜儀
- 熱釋電分析儀
- 激光掃描共聚焦顯微鏡
- 高低溫探針臺
- 飛秒激光測試系統
檢測標準(部分)
GB/T 249-2017半導體分立器件型號命名方法
GB/T 1550-2018非本征半導體材料導電類型測試方法
GB/T 1555-2009半導體單晶晶向測定方法
GB/T 2900.32-1994電工術語 電力半導體器件
GB/T 2900.66-2004電工術語 半導體器件和集成電路
GB/T 3430-1989半導體集成電路型號命名方法
GB/T 3431.2-1986半導體集成電路文字符號 引出端功能符號
GB/T 3436-1996半導體集成電路運算放大器系列和品種
GB/T 3859.1-2013半導體變流器 通用要求和電網換相變流器 第1-1部分:基本要求規范
GB/T 3859.2-2013半導體變流器 通用要求和電網換相變流器 第1-2部分:應用導則
GB/T 3859.3-2013半導體變流器 通用要求和電網換相變流器 第1-3部分:變壓器和電抗器
GB/T 3859.4-2004半導體變流器 包括直接直流變流器的半導體自換相變流器
GB/T 3876-2017鉬及鉬合金板材
GB/T 4023-2015半導體器件 分立器件和集成電路 第2部分:整流二極管
GB/T 4079-1994用于電離輻射探測器的放大器和電荷靈敏前置放大器的測試方法
GB/T 4326-2006非本征半導體單晶霍爾遷移率和霍爾系數測量方法
GB 4343.1-2018家用電器、電動工具和類似器具的電磁兼容要求 第1部分:發射
GB/T 4376-1994半導體集成電路 電壓調整器系列和品種
GB/T 4377-2018半導體集成電路 電壓調整器測試方法
GB/T 4586-1994半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管
檢測樣品(部分)
無機合成物半導體、元素半導體、有機合成物半導體、非晶態半導體、本征半導體等。
檢測優勢
檢測資質(部分)
檢測流程
1、中析檢測收到客戶的檢測需求委托。
2、確立檢測目標和檢測需求
3、所在實驗室檢測工程師進行報價。
4、客戶前期寄樣,將樣品寄送到相關實驗室。
5、工程師對樣品進行樣品初檢、入庫以及編號處理。
6、確認檢測需求,簽定保密協議書,保護客戶隱私。
7、成立對應檢測小組,為客戶安排檢測項目及試驗。
8、7-15個工作日完成試驗,具體日期請依據工程師提供的日期為準。
9、工程師整理檢測結果和數據,出具檢測報告書。
10、將報告以郵遞、傳真、電子郵件等方式送至客戶手中。
檢測優勢
1、旗下實驗室用于CMA/CNAS/ISO等資質、高新技術企業等多項榮譽證書。
2、檢測數據庫知識儲備大,檢測經驗豐富。
3、檢測周期短,檢測費用低。
4、可依據客戶需求定制試驗計劃。
5、檢測設備齊全,實驗室體系完整
6、檢測工程師 知識過硬,檢測經驗豐富。
7、可以運用36種語言編寫MSDS報告服務。
8、多家實驗室分支,支持上門取樣或寄樣檢測服務。
檢測實驗室(部分)
結語
以上為半導體檢測的檢測服務介紹,如有其他疑問可聯系在線工程師!
















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